涂層測厚儀采用無損檢測方法測厚既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，故能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行。在化工，電子，電力，金屬等行業(yè)中，為了實現(xiàn)對各類材料的保護或裝飾作用，通常采用噴涂有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法，這樣便出現(xiàn)了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學(xué)生成膜等概念，我們稱之為“覆層”。
覆層的厚度測量已成為金屬加工工業(yè)已用戶進行成品質(zhì)量檢測*的zui重要工序。是產(chǎn)品達到標準的*手段。目前，國內(nèi)外已普遍按統(tǒng)一的標準測定涂鍍層厚度，覆層無損檢測的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進步而更加至關(guān)重要。
有關(guān)覆層無損檢測方法，主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面，系有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線反射法可以無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍小。因有放射源，故，使用者必須遵守射線防護規(guī)范，一般多用于各層金屬鍍層的厚度測量。
電容法一般僅在很薄導(dǎo)電體的絕緣覆層厚度測試上應(yīng)用。
涂層測厚儀的校準方法：
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準標準片。簡稱標準片。
⒈ 校準箔
對TT220涂層測厚儀“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。“箔”有利于曲面上的校準。
⒉ 有覆蓋層的標準片
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標準片。對于涂層測厚儀，覆蓋層應(yīng)是非磁性的。
涂層測厚儀使用方法和技巧
在使用涂層波測厚儀時注意對儀器的操作步驟及使用技巧，可以大大增加涂層測厚儀的使用壽命和測量的準確度。涂層測厚儀使用注意事項：
1，使用涂層測厚儀測量時，探頭一定要垂直于被測物的表面；2，測量時不要拖動探頭，因為這樣不僅對探頭會造成磨損，也不會得到準確的測量結(jié)果；3，測量時探頭線在銜接探頭的位置不能過分彎曲及抖動（針對分體式涂層測厚儀），這樣會影響測試效果，從而得不到準確而穩(wěn)定的測量結(jié)果；4，盡量保證涂層測厚儀為專人使用和保管；5如感覺測量結(jié)果偏差比較大時，請先用隨機配備的五片塑料校準片做一輪測試，如偏離允許誤差較遠則有可能是儀器本身出了問題，需返廠檢修，切記不可自行拆卸自行維修。
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